Der Gen Test Buch von Selzer-McKenzie SelMcKenzie

Der Gen Test

Von D.Selzer-McKenzie

 

 

 

 

 

 

Der Gen Test   Buch von Selzer-McKenzie SelMcKenzie

„Der Gen Test“

von D.Selzer-McKenzie

Ein Titelsatz für diese Publikation ist bei der Deutschen Staatsbibliothek hinterlegt.

Originalausgabe ®Der Gen Test

® 2012 by D.Selzer-McKenzie

(Dr.of Molekularbiology and Genetics)

published by SelMcKenzie Media Publishing

auch als Hörbuch und eBook (ePUB)

ISBN 978-1-291-22850-2, €uro 7,80  349 Seiten

Alle Rechte, insbesondere das Recht der Vervielfältigung und Verbreitung vorbehalten. Kein Teil des Werkes darf in irgendeiner Form (durch Fotokopie,Microfilm oder ein anderes Verfahren) ohne Genehmigung des Authors und Verlages reproduziert oder unter Verwendung elektronischer Systeme gespeichert,verarbeitet, vervielfältigt oder verbreitet werden.

 

Synthese effizienter Testmustergeneratoren für den deterministischen funktionalen Selbsttest

Der deterministische funktionale Selbsttest vereint die Vorteile des funktionalen und des deterministischen strukturellen Tests. Der deterministische funktionale Selbsttest wird wie der funktionale Test mit Systemgeschwindigkeit durchgeführt, beeinflusst die Geschwindigkeit im Systembetrieb nicht und erkennt Verzögerungsfehler. Zudem besitzt er die hohe Fehlerüberdeckung des deterministischen strukturellen Tests. Dies wird erreicht, indem funktionale Einheiten auf dem System so gesteuert werden, dass berechnete deterministische Testvektoren erzeugt werden. Wir stellen eine neue Methode zur Steuerung der funktionalen Einheiten vor, die einen deterministischen Mustersatz stärker komprimiert als bisher bekannte Verfahren.

Der Test eines SystemsonaChip mit Systemgeschwindigkeit stellt hohe Anforderungen an externe Tester, wenn sich der Systemtakt dem GHz Bereich nähert. Selbsttestmethoden verlagern Testerfunktionalität auf den Chip und reduzieren dabei die Anforderungen an den externen Tester. Wenn eine sehr hohe Qualität des Tests erforderlich ist, müssen deterministische Testverfahren eingesetzt werden. Diese Verfahren erfordern eine Modifikation der Schaltung, wenn ein Prüfpfad [1, 2] und/oder Kontrollund Beobachtungspunkte [3, 4, 5] notwendig sind, welche zudem die Geschwindigkeit im Systembetrieb beeinträchtigen. In prüfpfadbasierten Verfahren können Verzögerungsfehler nicht erkannt werden, wenn sie aufgrund der prüfpfadbedingten Musterkorrelationen nicht angeregt oder beobachtet werden können. Deshalb werden intensiv Verfahren untersucht, die vorhandene funktionale Einheiten als Generatoren nutzen [6, 7, 8, 9, 10] und für den Test nur die Steuerung der Einheiten ändern.